| References |
Padhi, A.K., Nanjundaswamy, K.S., Masquelier, C., Okada, S., Goodenough, J.B., (1997) J. Electrochem. Soc., 144, pp. 1609-1613; Garcia-Moreno, O., Alvarez-Vega, M., Garcia-Alvarado, F., Garcia-Jaca, J., Gallardo-Amores, J.M., Sanjuan, M.L., Amador, U., (2001) Chem. Mater., 13, pp. 1570-1576; Ramana, C.V., Ait-Salah, A., Utsunomiya, S., Becker, U., Mauger, A., Gendron, F., Julien, C.M., (2006) Chem. Mater., 18, pp. 3788-3794; Rivera, J.P., Schmid, H., (1994) Ferroelectrics, 161, pp. 91-97; Mercier, M., Gareyte, J., Bertaut, E.F., (1967) Compt. Rendus Hebd. Seances Acad. Sci. B, 264, p. 979; Dai, D., Whangbo, M.H., Koo, H.J., Rocquefelte, X., Jobic, S., Villesuzanne, A., (2005) Inorg. Chem., 44, pp. 2407-2413; Jensen, T.B.S., Christensen, N.B., Kenzelmann, M., Ronnow, H.M., Niedermayer, C., Andersen, N.H., Lefmann, K., Vaknin, D., (2009) Phys. Rev. B, 79, p. 92412; Kharchenko, N.F., Kharchenko, Y.N., Szymczak, R., Baran, M., Schmid, H., (2001) Low Temp. Phys., 27, pp. 895-898; Xu, Y.N., Ching, W.Y., Chiang, Y.M., (2004) J. Appl. Phys., 95, pp. 6583-6585; Rissouli, K., Benkhouja, K., Ramos-Barrado, J.P., Julien, C., (2003) Mater. Sci. Eng. B, 98, pp. 185-189; Bacq, O.L., Pasturel, A., (2005) Philos. Mag., 85, pp. 1747-1754; Julien, C.M., Mauger, A., Zaghib, K., Veillette, R., Groult, H., (2012) Ionics, 18, pp. 625-633; Santoro, R.P., Newnham, R.E., Nomura, S., (1966) J. Phys. Chem. Solids, 27, pp. 655-666; Cheruku, R., Kruthika, G., Govindaraj, G., Vijayan, L., (2015) J. Phys. Chem. Solids, 86, pp. 27-35; Fujimoto, D., Lei, Y., Huang, Z.H., Kang, F., Kawamura, J., (2014) Int. J. Electrochem., 2014, p. 768912; Kellerman, D.G., Chukalkin, Y.G., Medvedeva, N.I., Kuznetsov, M.V., Mukhina, N.A., Semenova, A.S., Gorshkov, V.S., (2015) Mater. Chem. Phys., 149-150, pp. 209-215; Augustsson, A., Zhuang, G.V., Butorin, S.M., Osorio-Guillén, J.M., Dong, C.L., Ahuja, R., Chang, C.L., Guo, J.H., (2005) J. Chem. Phys., 123, p. 184717; Abbate, M., Lala, S.M., Montoro, L.A., Rosolen, J.M., (2005) Electrochem. Solid-State Lett., 8, pp. A288-A290; Wang, G.X., Bewlay, S., Needham, S.A., Liu, H.K., Liu, R.S., Drozd, V.A., Lee, J.F., Chend, J.M., (2005) J. Electrochem. Soc., 153, pp. A25-A31; Drozd, V., Liu, G.Q., Liu, R., Kuo, H., Shen, C.H., Shy, D.S., Xin, X.K., (2009) J. Alloys Compd., 487, pp. 58-63; Kurosumi, S., Nagamura, N., Toyoda, S., Horiba, K., Kumigashira, H., Oshima, M., Furutsuki, S., Mizuno, N., (2011) J. Phys. Chem. C, 115, pp. 25519-25522; Yang, S., Wang, D., Liang, G., Yiu, Y.M., Wang, J., Liu, L., Sun, X., Sham, T.K., (2012) Energy Environ. Sci., 5, pp. 7007-7016; Liu, X., Liu, J., Qiao, R., Yu, Y., Li, H., Suo, L., Hu, Y.S., Yang, W., (2012) J. Am. Chem. Soc., 134, pp. 13708-13715; Yiu, Y.M., Yang, S., Wang, D., Sun, X., Sham, T.K., (2013) J. Phys.: Conf. Ser., 430, p. 1204; Boesenberg, U., Meirer, F., Liu, Y., Shukla, A.K., Dell'Anna, R., Tyliszczak, T., Chen, G., Cabana, J., (2013) Chem. Mater., 25, pp. 1664-1672; Dedryvère, R., Maccario, M., Croguennec, L., Cras, F.L., Delmas, C., Gonbeau, D., (2008) Chem. Mater., 20, pp. 7164-7170; Castro, L., Dedryvère, R.R., Khalifi, M.E., Lippens, P.E., Breger, J., Tessier, C., Gonbeau, D., (2010) J. Phys. Chem. C, 114, pp. 17995-18000; Kinyanjui, M.K., Axmann, P., Wohlfahrt-Mehrens, M., Moreau, P., Boucher, F., Kaiser, U., (2010) J. Phys.: Condens. Matter, 22, p. 275501; Yu, J., Rosso, K.M., Liu, J., (2011) J. Phys. Chem. C, 115, pp. 25001-25006; Hollmark, H.M., Gustafsson, T., Edström, K., Duda, L.C., (2011) Phys. Chem. Chem. Phys., 13, pp. 20215-20222; Piper, L.F.J., Quackenbush, N.F., Sallis, S., Scanlon, D.O., Watson, G.W., Nam, K.W., Yang, X.Q., Whittingham, M.S., (2013) J. Phys. Chem. C, 117, pp. 10383-10396; Lee, H., Kim, M.G., Cho, J., (2007) Electrochem. Commun., 9, pp. 149-154; Seo, D.H., Gwon, H., Kim, S.W., Kim, J., Kang, K., (2010) Chem. Mater., 22 (2), pp. 518-523; Kellerman, D.G., Chukalkin, Y.G., Mukhina, N.A., Gorshkov, V.S., Semenova, A.S., Teplykh, A.E., (2012) J. Magn. Magn. Mater., 325, pp. 3181-3188; Stavitski, E., de Groot, F., (2010) CTM4XAS 3.1 –Charge Transfer Multiplet Calculations for X-Ray Absorption Spectroscopy: Simulations of XAS, XPS and XES, Spectra of Transition Metal Systems, , Utrecht University; Stavitski, E., de Groot, F.M., (2010) Micron, 41, pp. 687-694; Okada, K., Kotani, A., (1992) J. Phys. Soc. Jpn., 61, pp. 449-453; de Groot, F.M.F., Abbate, M., van Elp, J., Sawatzky, G.A., Ma, Y.J., Chen, C.T., Sette, F., (1993) J. Phys.: Condens. Matter, 5 (14), pp. 2277-2288; Shannon, R.D., (1976) Acta Crystallogr. A, 32, pp. 751-767; Julien, C.M., Mauger, A., Zaghib, K., Veillette, R., Groult, H., (2012) Ionics, 18, pp. 625-633; Fisher, M.E., (1962) Philos. Mag., 7, pp. 1731-1743; Mays, J.M., (1963) Phys. Rev., 131, pp. 38-53; Kornev, I., Bichurin, M., Rivera, J.P., Gentil, S., Schmid, H., Jansen, A.G.M., Wyder, P., (2000) Phys. Rev. B, 62, pp. 12247-12253; Abbate, M., de Groot, F.M.F., Fuggle, J.C., Fujimori, A., Tokura, Y., Fujishima, Y., Strebel, O., Tsuda, N., (1991) Phys. Rev. B, 44, pp. 5419-5422; Ishii, H., Ishiwata, Y., Eguchi, R., Harada, Y., Watanabe, M., Chainani, A., Shin, S., (2001) J. Phys. Soc. Jpn., 70, pp. 1813-1816; Jeong, H.K., Noh, H.J., Kim, J.Y., Jin, M.H., Park, C.Y., Lee, Y.H., (2008) Europhys. Lett., 82, p. 67004; Hsu, K.F., Tsay, S.Y., Hwang, B.J., (2005) J. Power Sources, 146, pp. 529-533; Yao, J., Konstantinov, K., Wang, G.X., Liu, H.K., (2007) J. Solid State Electrochem., 11, pp. 177-185; Chung, S.Y., Bloking, J.T., Chiang, Y.M., (2002) Nature Mater., 1, pp. 123-128; Chung, S.Y., Chiang, Y.M., (2004) Electrochem. Solid-State Lett., 6, pp. A278-A281; Wang, G.X., Bewlay, S.L., Konstantinov, K., Liua, H.K., Dou, S.X., Ahn, J.H., (2004) Electrochim. Acta, 50, pp. 443-447; Shi, S., Liu, L., Ouyang, C., Wang, D.S., Wang, Z., Chen, L., Huang, X., (2003) Phys. Rev. B, 68, p. 195108; Ouyang, C., Shi, S., Wang, Z., Huang, X., Chen, L., (2004) Phys. Rev. B, 69, p. 104303; Herle, P.S., Ellis, B., Coombs, N., Nazar, L.F., (2004) Nature Mater., 3, pp. 147-152 |