References |
Scott, J.F., (2000) Ferroelectric Memories; Eatough, M.O., Rodriguez, M.A., Dimos, D., Tuttle, B., (1995) Rigaku J., 12, pp. 10-13; Kimura, S., Izumi, K., Tatsumi, T., (2002) Appl. Phys. Lett., 80 (13), pp. 2365-2367; Lee, K.S., Kim, Y.K., Baik, S., Kim, J., Jung, I.S., (2001) Appl. Phys. Lett., 79 (15), pp. 2444-2446; Liu, M., Hsia, K.J., (2003) Appl. Phys. Lett., 83 (19), pp. 3978-3980; Do, D.H., Evans, P.G., Isaacs, E.D., Kim, D.M., Eom, C.B., Dufresne, E.M., (2004) Nat. Mater., 3, pp. 365-369; Liu, M., Hsia, K.J., Sardela, M., (2005) J. Am. Ceram. Soc., 88 (1), pp. 210-215; Menou, N., Ch, M., Baturin, I.S., Ya, S.V., Hodeau, J.L., (2005) J. Appl. Phys., 97, pp. 064108-064113; Ya, S.V., Nikolaeva, E.V., Shishkin, E.I., Baturin, I.S., Bolten, D., Lohse, O., Waser, R., (2001) MRS Symp. Proc., 655. , CC10.8.1-6; Schloss, L.F., McIntyre, P.C., (2003) J. Appl. Phys., 93 (3), pp. 1743-1747; Durbin, M.K., Hicks, J.C., Park, S.E., Shrout, T.R., (2000) J. Appl. Phys., 87 (11), pp. 8159-8164; Noheda, B., Cox, D.E., Shirane, G., Park, S.E., Cross, L.E., Zhong, Z., (2001) Phys. Rev. Lett., 86 (17), pp. 3891-3894; Ye, Z.G., Noheda, B., Dong, M., Cox, D.E., Shirane, G., (2001) Phys. Rev., 64 (18), pp. 184114-184118; Chen, K.P., Zhang, X.-W., Luo, H.-S., (2002) J. Phys.: Condens. Matter, 14 (29), pp. 571-L576; Scott, J.F., Dawber, M., (2000) Appl. Phys. Lett., 76 (25), pp. 3801-3803; Arlt, G., Neumann, H., (1988) Ferroelectrics, 87, p. 109; Brennan, C., (1995) Integr. Ferroelectr., 8, pp. 93-109; Brennan, C., (1995) Integr. Ferroelectr., 8 (3-4), p. 335; Scott, J.F., Pouligny, B., (1988) J. Appl. Phys., 64 (3), pp. 1547-1551; Duiker, H.M., Beale, P.D., Scott, J.F., Paz De Araujo, C.A., Melnick, B.M., Cuchiaro, J.D., McMillan, L.D., (1990) J. Appl. Phys., 68 (11), pp. 5783-5791; Scott, J.F., Paz De Araujo, C.A., Melnick, B.M., McMillan, L.D., Zuleeg, R., (1991) J. Appl. Phys., 70 (1), pp. 382-388; Beccero, A.I., McCammon, C., Lagenhorst, F., Seifert, F., Angel, R., (1999) Phase Transit., 69, p. 133; Ya, S.V., Rumyantsev, E.L., Nikolaeva, E.V., Shishkin, E.I., Baturin, I.S., (2001) J. Appl. Phys., 90 (12), pp. 6312-6315; Ya, S.V., Baturin, I.S., Shishkin, E.I., Belousova, M.V., (2003) Integr. Ferroelectr., 53, pp. 379-390; Menou, N., Castagnos, A.-M., Ch, M., Johnson, J., Wouters, D.J., Baturin, I.S., Ya, S.V., (2004) Integr. Ferroelectr., 61, pp. 89-95; Grossmann, M., Lohse, O., Bolten, D., Boettger, U., Schneller, T., Waser, R., (2002) J. Appl. Phys., 92 (5), pp. 2680-2687 |