| References |
Kolosov, O., Gruverman, A., Hatano, J., Takahashi, K., Tokumoto, H., (1995) Phys. Rev. Lett., 74, p. 4309; Gruverman, A., Auciello, O., Tokumoto, H., (1998) Annu. Rev. Mater. Sci., 28, p. 101; Soergel, E., (2011) J. Phys. D Appl. Phys., 44, p. 464003; Kalinin, S.V., Morozovska, A.N., Chen, L.Q., Rodriguez, B.J., (2010) Rep. Prog. Phys., 73, p. 056502; Cho, Y., Fujimoto, K., Hiranaga, Y., Wagatsuma, Y., Onoe, A., Terabe, K., Kitamura, K., (2002) Appl. Phys. Lett., 81, p. 4401; Hong, S., Colla, E.L., Kim, E., Taylor, D.V., Tagantsev, A.K., Muralt, P., No, K., Setter, N., (1999) J. Appl. Phys., 86, p. 607; Abplanalp, M., Fousek, J., Günter, P., (2001) Phys. Rev. Lett., 86, p. 5799; Paruch, P., Tybell, T., Triscone, J.M., (2001) Appl. Phys. Lett., 79, p. 530; Terabe, K., Takekawa, S., Nakamura, M., Kitamura, K., Higuchi, S., Gotoh, Y., Gruverman, A., (2002) Appl. Phys. Lett., 81, p. 2044; Ievlev, A.V., Jesse, S., Morozovska, A.N., Strelcov, E., Eliseev, E.A., Pershin, Y.V., Kumar, A., Kalinin, S.V., (2014) Nat. Phys., 10, p. 59; Morita, T., Cho, Y., (2004) Appl. Phys. Lett., 84, p. 257; Bühlmann, S., Colla, E., Muralt, P., (2005) Phys. Rev. B, 72, p. 214120; Rodriguez, B.J., Nemanich, R.J., Kingon, A., Gruverman, A., Kalinin, S.V., Terabe, K., Liu, X.Y., Kitamura, K., (2005) Appl. Phys. Lett., 86, p. 012906; Agronin, A., Molotskii, M., Rosenwaks, Y., Rosenman, G., Rodriguez, B.J., Kingon, A.I., Gruverman, A., (2006) J. Appl. Phys., 99, p. 104102; Kholkin, A.L., Bdikin, I.K., Shvartsman, V.V., Pertsev, N.A., (2007) Nanotechnology, 18, p. 095502; Shishkin, E.I., Ievlev, A.V., Nikolaeva, E.V., Nebogatikov, M.S., Shur, V.Y., (2008) Ferroelectrics, 374, p. 26; Wu, A., Vilarinho, P.M., Wu, D., Gruverman, A., (2008) Appl. Phys. Lett., 93, p. 262906; Lilienblum, M., Soergel, E., (2011) J. Appl. Phys., 110, p. 052018; Ievlev, A.V., Morozovska, A.N., Eliseev, E.A., Shur, V.Y., Kalinin, S.V., (2014) Nat. Commun., 5, p. 5545; Guyonnet, J., Agoritsas, E., Bustingorry, S., Giamarchi, T., Paruch, P., (2012) Phys. Rev. Lett., 109, p. 147601; Kim, Y., Buhlmann, S., Hong, S., Kim, S.H., No, K., (2007) Appl. Phys. Lett., 90, p. 072910; Woo, J., Hong, S., Setter, N., Shin, H., Jeon, J.-U., Pak, Y.E., No, K., (2001) J. Vac. Sci. Technol. B, 19, p. 818; Woo, J., Hong, S., Min, D.K., Shin, H., No, K., (2002) Appl. Phys. Lett., 80, p. 4000; Kim, Y., Kim, J., Buhlmann, S., Hong, S., Kim, Y.K., Kim, S.-H., No, K., (2008) Phys. Status Solidi Rapid Res. Lett., 2, p. 74; Shishkin, E.I., Shur, V.Y., Mieth, O., Eng, L.M., Galambos, L.L., Miles, R.O., (2006) Ferroelectrics, 340, p. 129; Ievlev, A.V., Alikin, D.O., Morozovska, A.N., Varenyk, O.V., Eliseev, E.A., Kholkin, A.L., Shur, V.Y., Kalinin, S.V., (2015) ACS Nano, 9, p. 769; Tong, S., Park, W.I., Choi, Y.-Y., Stan, L., Hong, S., Roelofs, A., (2015) Phys. Rev. Appl., 3, p. 014003; Hong, S., Tong, S., Park, W.I., Hiranaga, Y., Cho, Y.S., Roelofs, A., (2014) Proc. Natl. Acad. Sci. USA, 111, p. 6566; Kim, Y., Bae, C., Ryu, K., Ko, H., Kim, Y.K., Hong, S., Shin, H., (2009) Appl. Phys. Lett., 94, p. 032907; Shur, V.Y., Akhmatkhanov, A.R., Chuvakova, M.A., Baturin, I.S., (2014) Appl. Phys. Lett., 105, p. 152905; Shur, V.Y., (2006) J. Mater. Sci., 41, p. 199; Fridkin, V.M., (1980) Ferroelectric Semiconductors, , (Consultant Bureau, New York); Morozovska, A.N., Eliseev, E.A., Li, Y., Svechnikov, S.V., Maksymovych, P., Shur, V.Y., Gopalan, V., Kalinin, S.V., (2009) Phys. Rev. B, 80, p. 214110; Aravind, V.R., Morozovska, A.N., Bhattacharyya, S., Lee, D., Jesse, S., Grinberg, I., Li, Y.L., Kalinin, S.V., (2010) Phys. Rev. B, 82, p. 024111; Morozovska, A.N., Eliseev, E.A., Ievlev, A.V., Varenyk, O.V., Pusenkova, A.S., Chu, Y.-H., Strikha, M.V., Kalinin, S.V., (2014) J. Appl. Phys., 116, p. 066817; Morozovska, A., Svechnikov, S., Eliseev, E., Rodriguez, B., Jesse, S., Kalinin, S., (2008) Phys. Rev. B, 78, p. 054101; Stephenson, G.B., Elder, K.R., (2006) J. Appl. Phys., 100, p. 051601; Catalan, G., Bea, H., Fusil, S., Bibes, M., Paruch, P., Barthelemy, A., Scott, J.F., (2008) Phys. Rev. Lett., 100, p. 027602 |