EXOELECTRON SPECTROMETRY AS A METHOD OF DETERMINATION OF ENERGY DEPTH OF LEVELS OF SURFACE ELECTRON CENTERS / KORTOV VS,SHIFRIN VP // FIZIKA TVERDOGO TELA. - 1975. - V. 17, l. 7. - P. 2134-2135.

ISSN/EISSN:

0367-3294 / нет данных

Type:

Note

Abstract:

нет данных

Author keywords:

нет данных

DOI:

нет данных

Web of Science ID:

ISI:A1975AJ78800057

Соавторы в МНС:

—

Другие поля

Поле	Значение
Publisher	MEZHDUNARODNAYA KNIGA
Address	39 DIMITROVA UL., 113095 MOSCOW, RUSSIA
Language	Russian
Research-Areas	Physics
Web-of-Science-Categories	Physics, Condensed Matter
Number-of-Cited-References	4
Journal-ISO	Fiz. Tverd. Tela
Doc-Delivery-Number	AJ788