Реестр заключений о возможности опубликования
Страница: (Назад) 1 ... 111 112 113 114 115 116 117 118 119 120 121 122 123 124 125 126 127 128 ...320 (Далее)
| Фамилия, Имя, Отчество заявителя: | Михайлович Анна Павловна |
| Структурное подразделение УрФУ: | ФТИ |
| Контактный телефон заявителя: | +7 906 810-11-40 |
| Адрес электронной почты заявителя: | anna.mikhailovich@gmail.com |
| Тип мероприятия: | Публикация |
| Сроки проведения мероприятия: | |
| Издательство/Организатор конференции: | AIP Publishing LLC |
| Вид публикуемой информации: | Статья |
| Форма предоставления информации: | Публикация тезисов |
| Название журнала или другого издания, где предполагается опубликование: | AIP Conference Proceedings |
| Страна назначения: | США |
| Название, наименование публикуемой информации: | Low energy electron emission from surface-interface states of SiO2:Ge films Низкоэнергетическая электронная эмиссия поверхностных состояний пленок SIO2:Ge |
| Автор, коллектив авторов из УрФУ: | А.Ф. Зацепин, Е. А. Бунтов, А. П. Михайлович, А. И. Слесарев |
| Докладчик (для конференций) из УрФУ: | А.Ф. Зацепин |
| Авторы из других организаций: | Х.-Ю. Фиттинг, В. Шмидт |
| Языки публикации: | Английский |
| Файл с текстом публикации: |  Low_energy_electron_emission_from_surface-interface_states_of_SiO_2.pdf |
| Файл с аннотацией на русском языке: | Nizkoehnergeticheskaja_ehlektronnaja_ehmissija_poverkhnostnykh_sostojanii_plenok_SIO2.pdf |
| Статус: | Заявка удовлетворена |
| Состав комиссии ОЗИ: | Ушаков А.Ю Кощеева И.А. Журавлева С.В. |
| Ограничения в отношении организации: | не имеется ограничений |
| Ограничения по экспортному контролю: | не имеют ограничений |
| Информация ограниченного доступа: | не содержатся сведения |
| Заключение: | может быть опубликована |
| Номер заключения: | 50-06/096 |
| Дата заключения: | 02.02.2015 |
  | |
Zakljuchenie_No_096-2015_Mikhailovich_statja.docx